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  1. 프로브 카드, 프로브 카드를 포함한 테스트 장치, 그 프로브 카드를 이용한 테스트 방법 및 반도체 소자 제조방법(Probe structure, process and test methodology of contacting micro bump structure to test semiconductor devices)
    • Jun-Bo Yoon, Inkyu Park, Yong-Hoon Yoon, Chang-Keun Kim, Donguk Kwon, Seunghwan Kim
    • United States of America, Patent Application & Registration in progress


  2. 프로브 카드, 프로브 카드를 포함한 테스트 장치, 그 프로브 카드를 이용한 테스트 방법 및 반도체 소자 제조방법(Probe structure, process and test methodology of contacting micro bump structure to test semiconductor devices)
    • Jun-Bo Yoon, Inkyu Park, Yong-Hoon Yoon, Chang-Keun Kim, Donguk Kwon, Seunghwan Kim
    • China, Patent Application & Registration in progress


  3. 다공성 탄성중합체 유전층을 구비하는 정전용량형 압력센서(CAPACITIVE TYPE PRESSURE SENSOR WITH POROUS DIELECTRIC LAYER)
    • Inkyu Park, Donguk Kwon
    • United States of America, Patent Application No.14990838, registration in progress


  4. 전극 배열을 갖는 조직 생검술용 바늘 및 이의 제조 방법(Biopsy needle with sensing electrode array and method for manufacturing the same)
    • Inkyu Park, Jae Ho Park, Sang Hyeok Kim, Joon Beom Seo, Nam Kug Kim, Jae Soon Choi
    • United States of America, Patent Application & registration in progress